技術文章
Technical articlesX射線吸收精細結構（XAFS）譜儀（同步輻射X射線吸收近邊結構）憑借創新技術設計，突破了傳統測量限制，利用常規X光源即可實現XAFS光譜測量。這一特性使其對同步輻射等重大科技基礎設施，以及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器形成了較佳的補充與拓展，有效拓寬了X射線光譜測量的應用場景與覆蓋范圍。作為一款小型化桌面式系統，該譜儀具備高的易用性，全面適配不同用戶的操作需求。設備支持近邊快掃功能，大幅提升測量效率；同時兼容原位測試等擴展功能，可滿足多樣化的實驗場景需求。在設計上，采用人...
在光譜探測領域，高分辨率、寬波長覆蓋與便捷操作的結合，是推動科研與產業突破的關鍵。高分辨平場光譜儀憑借創新的光學設計與朗好性能，成為強場物理、半導體制造等領域的核心探測設備，為精準光譜分析提供有力支撐。該光譜儀的核心優勢源于其先進的分光技術——采用全息凹球面變線距光柵進行分光，獨特的平場特性讓光譜成像更規整，無需額外校正即可直接使用面陣CCD記錄光譜，大幅提升了檢測效率。光柵工作在掠入射模式下，有效強化了衍射效率，確保微弱光譜信號也能被清晰捕捉；同時通過選配不同型號的光柵，可...
在現代材料分析領域，精準捕捉物質光譜特性是解鎖其屬性的關鍵。真空紫外分光光度計作為真空紫外波段檢測的核心設備，憑借獨特設計與性能，在生物醫藥、半導體等前沿領域作用突出，為科研提供可靠的物質表征工具。精準檢測的核心：科學的工作原理該設備的精準檢測源于嚴謹的工作流程：以氘燈為光源發射真空紫外光，光線在高真空環境中傳輸（避免空氣干擾），經收光系統聚焦至單色器，由單色器篩選出目標單色光后，精準聚焦于樣品區域。系統配備雙PMT探測器，分別采集樣品與參考光信號，信號經專業軟件對比分析后生...
在材料科學、化學等眾多領域的前沿研究中，近邊X射線吸收精細結構譜儀發揮著較為關鍵的作用。它能夠為科研人員提供關于物質原子結構和電子態的獨特信息，助力深入理解材料的物理和化學性質。然而，在使用該儀器進行數據采集與處理的過程中，存在著諸多容易陷入的誤區，若不加以重視，可能導致實驗結果的偏差甚至錯誤結論。一、數據采集階段的誤區1、樣品制備不當許多研究者往往低估了樣品制備的重要性。如果樣品厚度不均勻，可能會導致X射線穿透程度不一致，從而影響吸收信號的準確性。此外，樣品表面的平整度也至...
在材料科學的微觀世界里，X射線吸收精細譜儀如同一臺超級顯微鏡，能夠穿透物質表面揭示原子級別的結構信息。這項基于同步輻射光源的技術，正成為解析復雜體系電子態和幾何構型的設備，為新能源、催化劑研發等領域帶來革命性突破。一、原理探析：光子與電子的精妙對話當單色化的X射線照射樣品時，特定能量下的光子會被吸收并激發內層電子躍遷至空軌道。這種吸收系數隨入射光子能量變化的曲線并非平滑連續，而是在吸收邊附近呈現振蕩特征——這便是著名的EXAFS(擴展X射線吸收精細結構)信號。通過傅里葉變換處...
臺式X射線吸收譜儀作為現代科學研究的重要工具，正逐步改變著材料表征領域的格局。它突破了傳統大型同步輻射裝置的空間與資源限制，將高精度的結構分析能力帶入普通實驗室環境，為科研人員提供的便捷性。這種設備通過產生高質量的單色X射線束，能夠精準探測樣品中元素的電子躍遷特性，進而解析其局部配位結構和氧化狀態等關鍵信息。在安全性能方面，臺式X射線吸收譜儀的設計充分考量了輻射防護需求。操作過程中要求人員佩戴鉛制圍裙、專用護目鏡等個人防護裝備，并嚴格監控工作區域的輻射劑量水平，確保始終處于安...
真空紫外光譜儀作為一種分析工具，正悄然改變著材料科學的研究領域。它基于物理原理運作，能夠在高靈敏度下探測物質內部的電子結構變化，為科研人員提供了視角來洞察材料的奧秘。這項技術的核心在于利用特定波長范圍內的紫外線——即真空紫外波段的光與樣品相互作用，通過測量反射、透射或散射后的光譜信息，揭示出材料組成、鍵合狀態乃至缺陷特征等關鍵參數。相較于傳統可見光或近紅外光譜技術，真空紫外光譜的優勢顯而易見。由于其較短的波長特性，使得它對微小尺度的結構差異較為敏感，能夠分辨出原子級別的細節。...
在科學的浩瀚星空中，真空紫外分光光度計宛如一顆閃耀的星辰，它以精準的測量能力，為眾多領域的研究與分析照亮前行的道路。真空紫外分光光度計所涉及的波長范圍處于真空紫外波段，這一特殊的光譜區域有著性質與意義。常規的光學儀器難以觸及此地，而它能憑借技術與設計，精準地捕捉該波段內的光譜信息。其工作原理基于物質對不同波長光的吸收特性，當一束真空紫外光穿過待測樣品時，樣品中的分子、原子會與光子發生相互作用，那些被吸收的特定波長光所攜帶的信息，就像是樣品的“指紋”，通過精密的檢測系統，將這些...
當前位置：
