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X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或實驗室X射線源，通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結構及電子態的分析儀器。其核心技術包括X射線近邊吸收譜和擴展邊精細結構，可精準解析目標元素的化學價態、配位環境、鍵長及配位數等信息。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

臺式x射線吸收譜儀集成了緊湊型高亮度X射線源與高分辨率硅漂移探測器，將XAS實驗從大型同步輻射裝置“搬入”普通實驗室，實現了原位、快速、低成本的材料表征。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀同步輻射X射線吸收近邊結構主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

擴展x射線吸收精細結構譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。